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Metrology News· Keith Mills Publishing Editor·· 3 小时前AI 评分57

康耐视推出 AI 晶圆与面板识别系统 In-Sight 1750 Series

Cognex Launches AI-Powered Wafer Identification System

AI 导读

康耐视推出 In-Sight 1750 Series 晶圆与面板识别系统,结合 AI、先进成像与专用照明,旨在改善追溯并减少生产中断。系统可读取多种退化标记及难处理衬底上的标识,以减少人工干预并维持产能。针对现有 In-Sight 1740 用户,系统支持任务转换和升级,并提供基于网页的配置体验及内置读取日志,辅助质量与过程控制;更多信息见 www.cognex.com。

来源:Metrology News · metrology.news