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全球半导体观察 · 材料/设备·· 8 天前AI 评分59

玄测ZF101如何整合四道工序,缓解NAND批量测试瓶颈

批量测试卡在哪?玄测ZF101把四道工序收进一台设备

AI 导读

深圳市正系信息技术有限公司出品的玄测ZF101 FLASH自动化测试设备,将开卡、快速RDT测试、十级分Bin和下料整合至同一设备。设备基于联芸MAP1602主方案,配置64个独立测试通道,单次最多测试64颗132球NAND FLASH,最高支持2400 MT/s I/O速率。软件统一管理测试数据、分级结果与报表,可输出颗粒、单Die和单Plane三级FBB数据,用于来料检验、量产分选及工程验证。

来源:全球半导体观察 · 材料/设备 · dramx.com