为什么模拟与混合信号芯片难以采用自适应测试

模拟与混合信号芯片难以采用自适应测试，关键在于合格输出常是一个范围，且正常工艺波动、边缘失效与测试路径误差难以区分。1 月发布的 IEEE 2427-2025 为模拟缺陷建模与覆盖率评估提供了更一致的框架，但缩短或移除测试仍需确认剩余测量能够保留有效缺陷覆盖。Kelvin 连接、精确温控以及上游量测与下游电气表现的可靠关联，可为区分测量误差与器件偏差、判断测试冗余提供依据。